詳細介紹
JJG1078-2012數字攝影(CR、DR)系統X射線輻射源檢定規程
貨號AUBAT-1078Y
純鋁片純度為 99%以上,其厚度誤差不超過±0.05 mm;
檢定用模體
低對比度分辨力模體由鋁 (純度≧99%) 制成,厚度 20 mm±0.05 mm,模體上圓孔直徑為 1.0 cm,孔深的偏差不超過±0.02 mm。注: 低對比度分辨力模體也可以采等效厚度的 Cu (純度≧99%) 制成的模體,對比度范圍為0.8%~6.0%。
衰減模體材料為鋁 (純度≧99%),厚度為 20 mm±0.05 mm。注:可以采用 Cu (純度≧99%) 模體,厚度為 1.5 mm±0.05 mm。
分辨力測試卡
柵條鉛當量為 0.1 mmPb,*大線對應不小于 50 Lp/cm。
數字影像綜合測試卡,標尺分度值不大于 2 mm,并具有邊界及中心影像均勻性測試點。
X射線透過人體時由于各部位組織厚度和密度的不同,對 X 射線的衰減不同。數字攝影 (CR、DR) 系統的影像探測器接收透過人體的X 射線形成影像信號,經放大轉換后輸出數字影像。CR 系統 X 射線輻射源主要包括 X 射線輻射源組件、X 射線高壓發生器、成像裝置、圖像顯示器等。DR 系統 X 射線輻射源主要包括 X 射線輻射源織件、X 射線高壓發生器、數字化影像探測器、計算機圖像處理裝置、圖像顯示器等。
檢定方法:
1空間分辨力
a) 對 CR 系統:將 IP 放置在照射野中,射線束與 IP 表面垂直。選常用規格的 IP將分辨力測試卡放置在 IP 中間區,再將衰減模體放置于照射野中,并覆蓋整個照射野.設置 SID 為 100 cm 或 180 cm,選取管壓 70 V 或 80 kV,用適當的 mAs 曝光曝光后將 IP 在影像讀出器上掃描顯像,直接讀取可分辨的線對值。
b) 對 DR 系統:調整影像探測輸入面與射線束垂直。將分辨力測試卡放置在照射野的中心位置,盡量靠近影像探測器輸入面,再將衰減模體放置于照射野中,并覆蓋整個照射野。設置 SID 為 100 cm 或 180 cm,選取管電壓 70 kV 或 80 kV,用適當的 mAs 曝光調節窗寬與窗位使顯示影像*佳,在顯示器上直接讀取可分辨的線對值。
2低對比度分辨力
a) 對 CR 系統: 選常用規格的 IP,將低對比度分辨力模體放置在 IP 暗盒中間區模體表面與射線束垂直,并處在照射野的中心位置,在 SID 為 100 cm 或 180 cm,選取管電壓 70 kV 或 80 kV,用適當的 mAs 或自動模式條件下曝光,將曝光后的 IP 在影像讀出器上掃描顯像,可分辨的*小低對比度圓孔對應的百分比即為低對比度分辨力。b) 對 DR 系統:將低對比度分辨力模體放置在影像探測器輸入面,探測器與射線束垂直,并處在照射野的中心位置,在 SID 為 100 cm 或 180 cm,選取管電壓 70 kV 或80 kV,用適當的 mAs 或自動模式條件下曝光,調節窗寬與窗位使顯示影像*佳,可分辨的*小低對比度圓孔對應的百分比即為低對比度分辨力。
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